用SE掃描序列,層厚10mm(沒有10mm層厚的,選用大層厚),按TR500ms,TE30ms, NEX2次,F(xiàn)OV250mm和256×256矩陣掃描條件(必要時可適當(dāng)改變TR、TE時間,以獲得更好的影像),對模體不同測量層面進(jìn)行單層掃描,必要時*行均場。用以上掃描條件對充有均勻溶液的模體均勻性層進(jìn)行掃描,如( 圖二),對圖像均勻分布的點(diǎn)測量其信號強(qiáng)度值,測量區(qū)面積取100個象素點(diǎn),測量點(diǎn)不少于9個,分別按下式計(jì)算出圖像均勻性UΣ:
空間分辨力檢測
用SE掃描序列,層厚10mm(沒有10mm層厚的,選用大層厚),按TR500ms,TE30ms, NEX2次,F(xiàn)OV250mm和256×256矩陣掃描條件(必要時可適當(dāng)改變TR、TE時間,以獲得更好的影像),對模體不同測量層面進(jìn)行單層掃描,必要時*行均場。用以上掃描條件對模體空間分辨力層進(jìn)行掃描,如圖(三)圖像,將窗寬調(diào)至小,調(diào)窗位使圖像清晰分辨開模體小一組的線對數(shù)。
北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司
地址:海淀區(qū)二里莊5號樓102室
© 2024 版權(quán)所有:北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司 備案號:京ICP備06053975號-2 總訪問量:126502 站點(diǎn)地圖 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸